---
---
---(点击查看产品报价)
本文标题："AFM是分析表面形貌及表面粗糙度计量显微镜"
新闻来源：未知 发布时间：2018-4-26 19:06:29 本站主页地址：http://www.jiance17.com
AFM是分析表面形貌及表面粗糙度计量显微镜
AFM是分析表面形貌及表面力性能(如摩擦和弹性)的有效工具。它
揭示分子或原子级尺寸，其空间分辨率比电子硅微术的高，用。可以很
容易地观测硬而平的表丽。软而粗糙的样品则会产生假的图像。已知在
填充体系中有下列应用：测定高模量PE纤维的表面形貌和纳米结构1、
细直径(13μm)芳纶的结构及形貌2以及炭黑的聚集体。
测试步骤：利用～个很细的探针(通常针尖的半径小于10mn)，通过
探测探针与样品间排斥力的变化来观测表面形貌？其硅微镜载物台允许
样品旋转，并采用了儿种不同的探针(原子级的高分辨率探钳不同玄观
观测用的探针)和各种现成的软件。叮在空气中对样品进行观测，但在
水中观测试样可提高空间分辨率，避免损伤试样表面。采用恒力扫描模
式也可限制表面损伤。样品的制备非常重要。通常，用湿微镜盖玻片作
为基底，将其切割成小部分(如3 X 3mm)，把样品沉积在湿的玻璃片上
，然后在室温下真空干燥2。观测炭黑聚集体时，制样程序较复杂：将2
0mm炭黑超声分散在40ml氯仿中，然后滴几微升到玻璃片上3。为了使聚
集体的分布和密度均匀，需要在同…位置将悬浮液接连滴2．3次。还要
注意．载玻片的表面埘分布的均匀性有重要影响。用镀金的表丽比直接
用玻片时分散更均匀。炭黑制样时选镀金载玻片3。
标准方法：无
主要结果：观测到的最小纳米微丝宽瞍是10～15nm(甚至能看到5—
8ran更细的纤维)1。AFM的垂直分辨率比SEM的高，因此很容易观测到纤
维的形貌特征。纤维直径的测试结果与x射线衍射法测得的结果一致，
能够测定芳纶的粗糙度参数，这有助于改善工艺条件
所有资料用于交流学习之用，如有版权问题请联系，禁止复制,转载注明地址
上海光学仪器一厂-专业显微镜制造商 提供最合理的显微镜价格
合作站点：http://www.sgaaa.com/显微镜百科