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本文标题："涡流覆层测厚仪覆层厚度测量多功能分析显微镜"
新闻来源：未知 发布时间：2016-5-7 1:56:15 本站主页地址：http://www.jiance17.com
涡流覆层测厚仪覆层厚度测量多功能分析显微镜
电涡流法简称涡流法，它实质上是一种电磁法，其原理是利
用交流电磁场在被测导电物体中感应产生的涡流效应．涡流法的
工作频率为几赫到200 MHz，通常在覆层厚度测量中最高工作频
率大约为10,一20MHz。涡流法主要用来测量非磁性导电基体上的
非导电覆层厚度、非导电基体上的导电覆层厚度；在覆层和基体
的电导率相差较大的情况下，也可以用来测量非磁性导电基体上
的非磁性导电覆层厚度。涡流法应用最普遍的是测量铝制品表面
上的阳极氧化膜、铝或铜及其合金制品表面上的油漆层或其他非
导电覆罢厚度，以及非导电基体上铜箔的厚度等。
涡流效应与被测制品的磁导率有关。覆层与基体的磁导率不
同，可以测量铁磁基体上的非磁性覆层厚度，及不同磁导率的磁
性覆层厚度。但是，对每种基体和覆层的组合需要有各自的分度
曲线或面板，对同一台涡流覆层测厚仪要用于多种组合下的覆层
厚度测量，将需要相应多的分度曲线或较多的面板，从而增加了
测量的复杂性。在此情况下，通常采用有统一分度的磁感应法，
较少采用涡流法。
涡流法测量覆层厚度的范围随基体和覆层材料的组合、所选
用的频率而异，一般导电覆层厚度可测到小至几分之一微米，非
导电覆层可小至约2微米，而测量较厚的覆层可达几十毫米。
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