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本文标题："用于同时测量基体表面多层覆镀的镀层厚度便携金相显微镜"
新闻来源：未知 发布时间：2015-9-6 17:12:35 本站主页地址：http://www.jiance17.com
用于同时测量基体表面多层覆镀的镀层厚度便携金相显微镜
涡流法测厚
涡流法测厚也属非破坏性测厚法，可测量磁性基体上的非磁
性镀层、铝，铝合金表面的氧化膜或其它非金属保护膜。其测量误
差与磁性法相似。
方法原理
经调零和校准符合要求后，立即将探头垂直予试样的规定部
位，这时在表头上指示的数值，即表示试样该部位的镀层厚度值。
然后在附近部位反复测量几次，其数值接近时，取其各点平均值作
为镀层的厚度平均值。
涡流法测厚，也可用于非磁性基体上的与镀层间电导率相差
较大的镀层和其它非导电涂复层。
X射线荧光法测厚是一种快速、高精度的非破坏性测厚方
法。此法可测量任何金属或非金属基体上的15μm以下各种金属
镀层的厚度，它可以对面积极小的试样和极薄(百分之几μm)的
镀层、形状极复杂的试样进行测厚。
X射线荧光法也可用于同时测量基体表面多层覆镀的镀层厚
度，还可以在测量二元合金(如Pb-Sn合金等镀层)厚度的同时，
铡出合金镀层的成分。所以是一种比较先进而应用范围广泛的测
量方法。
x射线荧光法测厚的工作原理是利用x射线管或放射性同他
素释放出X射线，激发镀层或基体金属材料的特征X射线，X射
线的频率是金属原子序数的函数，而其强度与厚度有关。所以，通
过测定X射线的衰减后的强度，即可测量出被测镀层的厚度。
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