---
---
---(点击查看产品报价)
本文标题："封装集成电路芯片测量工业金相显微镜"
新闻来源：未知 发布时间：2015-6-23 15:42:41 本站主页地址：http://www.jiance17.com
封装集成电路芯片测量工业金相显微镜
集成电路测试仪的用途其用途一般可分为三类:用
于晶片阶段的测试(即晶片测试)，用于成品的最终测试，用于研
究可靠性及寿命试验。
1)_晶片测试将集成电路测试仪和后述的自动探针组合起
来，就可在短期内测试集成电路制造过程中晶片的直流参数，并
判断一块晶片中几百个以上集成电路芯片的好坏。尽管不可能得
到定量的测试结果，但由于集成电路测试仪和探针连用，因而具
有把不合格芯片的信号传送给自动探针的功能，所以侧试速度很
高
2)成品测试集成电路测试仪可以用于封装集成电路的最
终测试，出厂测试、可靠性的测试，并进而记录生产管理，大量
管理中的数据。如果将它用于晶片测试，就可搜集详细的资料，
从而迅速了解品片上的特性分布，并将所得到的资料很快反锁到
制造工艺流程中去，以提高成品率和产品性能。
所有资料用于交流学习之用，如有版权问题请联系，禁止复制,转载注明地址
上海光学仪器一厂-专业显微镜制造商 提供最合理的显微镜价格
合作站点：http://www.sgaaa.com/显微镜百科