---
---
---(点击查看产品报价)
本文标题："镀层中不含硫或含有非常少量-镀层检测显微镜"
新闻来源：未知 发布时间：2015-6-13 12:30:28 本站主页地址：http://www.jiance17.com
镀层中不含硫或含有非常少量-镀层检测显微镜
外延生长
当晶体基底内的原子排列稳定存在于镀层中时，这种
生长就定义为个延生长，随着镀层厚度增加，基底影响
减小，减小的速度受基体类型和状态及一定电镀条件的
影响，当基底具有大的晶粒时，如果表面是经过机械抛
光和延伸，基底影响迅速消失，电流密度的增加，极化
的增加，在溶液中加入表面活性有机化合物，这些都是
减少外延生长程度的因素，在早期阶段沉积多晶材料就
会出现晶格畸变。
构表示镀层中不含硫或至少是含有非常少量的硫，而
层状结构表示硫的存在，金相学是研究镍加铬组合镀层
腐蚀机理的有效方法：形成针孔类型在第十章插图中说
明，浸蚀揭示了柱状和层状镀层间的边界，因此，除了
能检查腐蚀的方式外，还提供了确定双层镀层中的两个
镍层的厚度方法。
即使是大晶粒的电沉积物与大部分大块金属相比，也
具有相当小的晶粒尺寸，为了比较，经淬火的可锻镍的
结构，当试样用显微镜检查时，观察到可锻材料中的位
错，在电镀镍中，当薄膜用显微镜检查时，末检测到位
错的活动，这种情况使人认为位错是受杂质原子牵制。
所有资料用于交流学习之用，如有版权问题请联系，禁止复制,转载注明地址
上海光学仪器一厂-专业显微镜制造商 提供最合理的显微镜价格
合作站点：http://www.sgaaa.com/显微镜百科