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电子探针显微分析
电子探针显微分析仪其原理与扫描电子显微镜相似,
但它用来进行定量显微分析,而后者用于产生高分辨率的
形貌信息,该仪器对电镀层的检查具有一定的用途,
但比已概述的那些仪器更专一化,它的主要用途或定量地
指示研究试样中特定元素的分布,这种情况在用光学显微
镜检查之后存在异议,但只要用电子探针显微分析仪才能
证实,同样,在镀镍层中,铜杂质的存在也可检测到。
电子探针显微分析仪可用于检测镀层的不连续性,这种
不连续性或者有固有的,即当电镀时存在于镀层中的,
或者是因腐蚀而形成的,因为电子仅能在金属内穿透一段
很短的距离,所以,底层金属仅在没有镀层的区域才能被
检测。
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