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层错腐蚀图形也不会象位错腐蚀坑那样经常变成圆角,这是它的优
点.因此,对层错腐蚀图形进行精确的测量,并观察它们与对称图
形的偏离状况,可用来确定被测表面与已知晶面之间的小的取向
偏离.对于与晶面偏离很小的情况,参考文献[7]中给出了
将相对边长换算为偏离度的方法.
如果腐蚀坑的几何关系是未知的,那末可以测出它的显露面
之间的夹角,并假定这些面是低指数的,再将测得的角度与
所列的角度进行比较,这样就能定出这些显露面的面指数来.对
于某些情况,一台带有可转动的分度台的金相
显微镜就足以进行
测量了,但通常需要一个显微测角器.
光学反射图,更精确的光学定向能用下述方法实现:将
一束平行光束垂直地投射到晶体表面上,然后观察从样品表面的
腐蚀坑或解理坑反射回来的光斑图形.腐蚀坑或解理坑中的小平
面象镜子一样将光线反射回来,形成清晰的反射图形
腐蚀坑的小侧平面的立方晶系晶体的典型光学反射图
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