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有关荧光强度测量的另一个问题是仪器的测量线性,在
反射率测量过程中,从低反射率到高反射率有一套从低到
高和系列标样,这是因为标样选择有一个原则,即标样的
反射率值要与实测调定仪器后,只有样品反射率与标样反
射率相近时,测值才是准确的;当样品反射率与标样反射
率相差过大时,测值就会发生较大偏差,
而在荧光强度测量过程中,只有一个铀酰玻璃标样,显然
,当样品与标样的荧光强度相差过大时,测值的精确性就
会降低。
要尽量缩短测量时间,因为激发光照射时间过长会导致
荧光强度的增强或减弱,所以建议地普通反射光下找到测
点,调好仪器后再转到荧光状态测量。
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