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本文标题："偏光显微镜应用于观察金属的抛光样品晶粒衬比"
新闻来源：未知 发布时间：2015-4-22 14:03:15 本站主页地址：http://www.jiance17.com
偏光显微镜应用于观察金属的抛光样品晶粒衬比
如配制适当，则各向异性金属的抛光样品将对偏振光起
“反应”，在正交偏振片下将观察到一种晶粒衬比效应，这是
说，晶粒的亮度将随晶体取向而变迁，但如样品属立方晶系，
则在正交偏振片下将只出现一片均匀的黑暗，除非由于侵蚀的
结果而产生了人工各向异性，就是说，由于侵蚀的结果而产生
了各向异性的表面薄膜或轮廓清晰的侵蚀斑，一个侵蚀斑将对
斜入射的光线发生反射，反射光将是椭圆偏振的，但是，这样
一支光线，检偏振器在任何位置也不可能完全消光，它将产生
一背底照明，因而掩盖了晶粒衬比效应。
很明显，偏振光主要用途之一是辨别不同取向的面积，因
为这些面积在正交偏振片下面是以不同强度出现的，由此可见，
这一技术对研究形变的效应，特别是从优取向的产生将非常有
用，但在竖直施照器与检偏振器之间再插入一染色片，则每一
晶粒可以靠一种特征的颜色来识别，当样品转动时颜色将随之
改变，这对于在再结晶研究中识别从优取向的强度，是非常有
用的，要相图的测定中，用偏振光易于在多相合金中识别不同
的相。
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