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本文标题："不同晶粒或晶块尺寸测量多功能金相显微镜"
新闻来源：未知 发布时间：2014-12-25 16:14:54 本站主页地址：http://www.jiance17.com
不同晶粒或晶块尺寸测量多功能金相显微镜
样品中的晶粒很细
关于微观应力的测量
由于微观应力的存在，使得不同晶粒或晶块的点阵常数将
产生变化。当微观应力使面间距大于正常的标准值时，
则其反射的布拉格将略微变小；反之，当微观应力使面间距
小于正常的标准值时，布拉格角将稍微变大，这样一来，
微观应力引起了衍射线条在正常峰值左右摆动，底片上的线
条宽化，记录纸上的衍射峰变得不尖锐，而成了圆秃的峰，
这就是样品上由于微观应力的存在而引起的线条宽化。
而当样品中的晶粒很细时，某一晶粒参与同一布拉格角反
射的晶面数将减少，因此当X射线的入射角与布拉格角有微
小偏离时，由各原子面所反射的X射线合成后，也引起了衍
射线条的宽化。
透射法适用于极薄的试样，反射法则适用于较厚的试样，
而且两者的晶粒只有足够细时才能进行测量
，如果材料的晶粒特别粗大时，则只能采用劳厄法来测定。
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