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如前所述,工作接点的粒状生成物比膜状生成物的影响
更大。因此当这种粒状生成物的影响很大时,通过分析这种,
粒状生成物的材料学手段,能够得到关于损耗机理的进一步
的结果。采用钨接点,按照直流电压、电流的变化以及
感应值的大小等条件考察了损耗的粉末的晶形变化,结果发
现感应值越大,得到非氧化物的全金属扮末的晶形物质越
多,这与接点的损耗是由电弧引起蒸发氧化的想法所推测的
另外,还进行了下述研究,考察了微小粒状生成物对接
触电阻的影响。设置在实验室及电话局机房内的金、银
合个接点的表面,当放置期达几年以上时就能逐渐见到微粒
状的生成物,能看出硫酸按的微粒,平均粒径越大其接触电
阻也越大。即使在清洁的大气中放置,也能见到附着的一些
硫酸馁微粒凝集在一起成为一种较大粒子的倾向,从而使接
触电阻迅速增大。相对温度越高该倾向越显著。
因此了解粒状生成物的组织处于什么状态对于理解今后
弱电流接点的各种现象是必要的,但关于接点所生成的粒状
物质的各种性质(大小、组成、粒子数、密度等)的研究及
其他各性质与接点特性的关系的研究极少,今后应加强进行
损耗机理方面的研究。
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