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本文标题："X光光学元件能够对影像作精确的放大-解析度高于光学镜"
新闻来源：未知 发布时间：2014-6-29 6:47:42 本站主页地址：http://www.jiance17.com
X光光学元件能够对影像作精确的放大-解析度高于光学镜
X光显微成像原理各种类型的X光显微术都是基于光子与凝聚态物质(软的或
硬的)之间相互作用的不同作为期成像的机制。
两种全景穿透式X光显微术其取像方式都基于相同的原理：让X光子束进入并
穿透目标物体后，然后由两维探测仪器来接收穿过样品后的X光。
两种显微技术唯一的差异在于其对穿透物体后(在转换成可见光影像前)是否
对X光影像进一步放大。如欲取得高于光学显微技术的解析度，适当的X光光
学元件能够对X光影像作精确的放大，是唯一可行的方式。
因为样品的内部各部分对X光光子之作用不同(受到其复数折射系数的控制)
造成穿过样品后X光在垂直光进行方向平面的分布有所变化，分析这些变化
可了解样品各部复数折射系数的分布进而了解物体内部的细微结构。从理论
上说，复数折射系数的实数部(也就是相位)和虚数部(吸收)在这一机制中都
有作用。然而在实际情形??中，除非X光束具备高同调性，否则折射系数的
实数部的影响并不明显。
例如标准医用X射线仪的光源多半来自典型的使用高压电子束轰击金属阳极
板所产生，因其波长范围宽，光源尺寸大，光束发散，因而都不具备同调特
质。
因此在标准的X光成像技术中，通常无法利用相位成像的效应。事实上迄今
为止，所有的医用X射线诊断仪都是根据样品不同部位间对X射线吸收的差异
所造成的影像对比来进行成像的。
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