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本文标题："硅在扫描探针显微镜的的制造和技术实验"
新闻来源：未知 发布时间：2014-6-20 5:37:06 本站主页地址：http://www.jiance17.com
硅在扫描探针显微镜的发展过程中起到了重要作用
硅在扫描探针显微镜的发展过程中起到了重要作用。在20多年的时l司
里，硅的7x7重构已成为表面科学家的挑战。
1983年，GerdBinning和Heinricll Rollrer发明了扫描隧道显微镜(S1，AI)
，在实空间中绘制了第一张Si(111)(7 x7)原子分辨率的图像。这个结果中
所包含的信息己帮助发展了‘rakayanagi等提出的二聚物一吸附原子一堆垛
层错模型。si(1 11)(7x7)表面已被认为是与众不同的扫描探针显微镜—原
子力显微镜(AFM)的试金石。51(1 11)(7 x7)表面的STM图像在引人STM一年
后获得，
而AFM却花了几乎10年的时间迎接这个令人兴奋的复杂表面的挑战。可是这
个最初的AFM数据没能给出关于硅表面的新的信息，成像这个复杂表面的要
求已成为完善AFM的驱动力。目前，AFM的分辨率已得到提高，Si(111)(7 x7
)表面成为AFM的标准测试样品。因为这个表面为众人所知，所以借助它可以
了解更多关于显微镜探针尖端的三维结构。硅既是令人激动的研究对象又是
用于扫描探针显微镜的垂要材料。
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