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本文标题："电路板的焊接面检测金相显微镜的型号和特点"
新闻来源：未知 发布时间：2014-6-18 21:39:10 本站主页地址：http://www.jiance17.com
金相显微镜的改进主要有以下几点
金相显微镜普遍采用是无限远光学结构系统，金相显微镜上的物镜是按
照无限远象之距进行观察的，而不是运用象常规之间的物镜进行有限象
距进行观察的。
金相显微镜上这种光学结构系统主要称之为无限远色差和无限远象差校
正的光学结构系统或称为无限远光学结构系统。
金相显微镜使用这种光学结构系统时，就是利用入射光从物体样品的表
面上反射到再次进入物镜后放大，光线保持为平行光束，直到通过镜筒
透镜后才形成中间象。
金相显微镜在通过一次放大的实象，然后再从目镜再次放大。金相显微
镜的无限远光学结构系统的优点主要体现在显微镜中的各种光学附件上。
针床测试法
这种方法由带有弹簧的探乍t-连接到电路板上的每一个检测点。弹簧使每个
，探针具有100一2009的压力，以保证每个检mll点接触良好，这样的探针排列在一
起被称为“针床”。在检测软件的控制下，可以对检测点和检测信号进行编程，
典型的针床测试仪结构，检测者可以获知所有测试点的信息。实际上只有那些需
要测试的测试点的探针是安装了的。尽管使用针床测试法可能同时在电路板的两
面进行检测，当设计电路板时，
还是应该使所有的检测点在电路板的焊接面。针床测试仪设备昂贵，且很难维修。
针头依据其具休应用选不同排列的探针。
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