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本文标题："研究泥和页岩样品使用哪种显微镜合适"
新闻来源：未知 发布时间：2014-5-1 11:53:56 本站主页地址：http://www.jiance17.com
研究泥和页岩样品使用哪种显微镜合适
用于显微镜下研究的样品有两面简称抛光片
采用超薄两面抛光薄片的主要优点是:
(1)通常认为研究泥和页岩的有效方法是射线照相。然而，一张页岩的
射线照相图片并不比该岩石的一个抛光表面的宏观照片好多少。可是，两面
抛光超薄片则能使我们对不同的粘土和其它细粒矿物进行光学鉴定，同时还
能对矿物之问的结构关系进行研究。
(2)可用透射光和反射光对页岩或煤的两面抛光超薄片作显微镜观察，
这是因为薄片的大部只有一个矿物的厚度，粘土矿物不重叠，因此我们可以
采用正常的两面抛光薄片的各种研究技术，对极细粒的岩石进行研究。
(3)烟煤薄片的厚度超过10 μm就不能透光，只有超薄的两面抛光薄片
才能用在透射光下对煤的植物显微组织进行研究，同时可对粘土矿物和其它
结构特征作研究鉴定。正常的两面抛光薄片的各种研究技术也都可以用来研
究煤和页岩的两面抛光超薄片。
X射线荧光法在下述情况时精度偏低:
(1)当基体金属中存在被层成分或铰层中存在基体金属成分时，
(2)镀层多于二层时，
(3)当镀层的化学成分与标定样品成分有很大变化时。
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