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显微干涉轮廓仪的基本缺点,是视场照度明显地比
干涉显微镜低
得多,因为它不能用在两个方向都扩展的光源,而采用窄的发光狭缝。
除此以外,又因采用两面谈,使仪器的制造和调整变得复杂。因此,
显微干涉轮廓仪不能够取代干涉显微镜,检查有规则痕迹的表面,采
用干涉显微镜还比较合适。
林尼克I 型显微干涉轮廓仪做成像
生物显微镜上紧凑的附件。但
它未能得到推厂应用,因为物镜的孔径和放大倍数都不够大,不能正
确评定被检表面加工哀迹的深度。另外,仪器结构不能保证干涉图样
有足够的稳定度。
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