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扫描电子显微镜(SEM )
SEM利用扫描线圈的作用.使电子束扫查试样表而,并与显像管电子束的
扫描同步,用扫查过程中产生的各种信号来调制显像管的光点亮度,从而
产生图像。
因为锈层往往是疏松空洞结构,用光学显微镜观察景深不够,用透射电子
显微镜(TEM)制样又极为困难,SEM以较高的分辨率、大景深清晰地显示
粗糙样品的表面形貌,观察断口表面
微观形态。它不仅高低、倍数连续可调,
可观察金相组织,显示诸如点蚀、应力腐蚀的主体构造以及氯化物、
碳化物等的分布与形状。制作试样较容易
通常扫描电子显微镜附有X射线能谱和波谱分析装置,
可在观察的同时快速得出该区域的化学成分。SEM-EDS可以将组织、
断口形貌、平均成分、微区成分分析同时完成,
已成为金属文物研究的重要手段之一。
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