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透射电镜
透射电镜(TEM)以波长极小的电子束作为照明源,
用电子透镜聚焦成像,分辨率更高,放大倍数更大,
可达10六次方 x。其成像原理主要有非晶体的质厚衬度,
样品的衬度取决于其质量厚度,
不但与厚度差有关,还与样品的原子序数差有关;
晶体的衍射衬度是利用电子的衍射效应来产生晶体样品的衬度,
还可以直接提供组分的晶体结构和各组分之间的晶体学关系等,
为晶体缺陷的直接观察创造了条件。
但是其样品的制备非常困难,尤其是硬化水泥浆体样品的
制备十分复杂;
且其使用成本比扫描电镜更高,所以一般扫描电镜能完成的工作,
不能一味追求高分辨率而使用透射电镜。
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