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超薄切片透射电子显微镜图像的形态立体定量分析,得到的是细胞
内各种亚微结构的几何参数。如果同时进行半薄切片的光学显微镜观察,
则可以得到整个细胞、甚至组织的一些结构参数。
由于两者使用的是同样的组织块,标本制作过程中的变化是相同的
因此,无论是否经过修正,两种数据可以结合起来,得到细胞更完
整的定量结构数据。
由于光学显微镜的分辨率低,在切片上,膜的截线不能显示。通常
只能把细胞与周围环境的分界当成细胞膜,把核与质的分界
当成核膜。
这样求出来的与膜面积有关的参数,只能看成是低分辨率下的参数。
在电子显微镜下,同样的膜,面积有时要大得多。如果想求两者的关系,
则可以把电子显微镜下的膜截线平滑化,当成光学显微镜下的膜,求出两者的比值。
除了切片的电子显微镜与光学显微镜图像,细胞的结构参数,还可以用其
它方法获得。例如,扫描电子显微镜二次电子图像可以提供整个细胞大
小及表面结构的某些数据,冷冻复型图像可以提供膜面上结构的
一些数据。各种数据综合起来,可以对细胞的形态做更全面的了解。
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