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本文标题："使用光学显微镜观察粗晶粒陶瓷材料结构特征"
新闻来源：未知 发布时间：2013-12-11 23:03:50 本站主页地址：http://www.jiance17.com
使用光学显微镜观察粗晶粒陶瓷结构
人们通常从宏观及性能检测上了解这些功能瓷的功能效应及性质。
然而利用显微镜可以直接看到材料内功能过程的发生及发展。
对于铁电功能瓷，通过电畴观察.这些过程可更清楚地显示出来。
热压烧结制备的PLZT透明铁电瓷，由于它为单相、无气孔、高透明度、
相变温度接近室温、对外场(电场或应力)非常敏感，
因此它十分方便用于进行在外场作用下内部产生功能过程等的观测，
但是普通光学显微镜放大倍数有限(例约400倍)，观察普通陶瓷
(晶粒尺寸较细，约为2--6μm)分辨率不够，为此应制备粗晶粒陶瓷
(例15 - 40μm)。另外，为了消除光学干扰，试样应磨薄至一个晶粒厚度的薄片，
这样在偏振光透光条件下进行观察，
可消除由于光波透过多个晶粒所引起的光折射反射，从而使得在外电场作用下，
其光性变化可清楚地显示出来。这项工作主要利用热压PLZT陶瓷粗晶粒单晶粒厚度
的薄片，在电场作用下进行功能过程的观测。另外，由于晶界区具有高应变能，
因此在发生功能过程中，它常起能源作用，为此也进行试验和讨论
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