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本文标题："不同比例碳的金属热加工微观金相结构观察显微镜"
新闻来源：未知 发布时间：2013-10-30 18:03:52 本站主页地址：http://www.jiance17.com
实验仪器分析
X-ray 绕射光谱仪分析(XRD)
将热处理过后掺杂不同比例的金属的活性碳，以低角 X 光绕射仪鉴定
其晶体结构，以 CuKα1(1.54056?)为 X 光之光源，扫描速度 1.2°/min，
侦测角度的范围从 20 度到 90 度;之后将所测得之 X-ray 绕射峰值和
JCPDS Card 的资料做比对以分析样品的结晶结构及成分。
扫描式电子显微镜分析(SEM)及能量散布分析仪分析(EDS)
使用扫描式电子显微镜观察热处理过后粉末的表面形貌。将 SEM 的
试样座黏上双面的铜胶带，再将欲观察的粉末黏至其上，即完成试样前
处理。以 10KV 加速电压，二次电子(SEI)来进行不同倍率的观察。
使用能量散布分析仪分析热处理过后粉末的定性分析，鉴定表面存在
的化学元素种类
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