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探讨大脑皮质经物理性压迫后锥状神经细胞超显微结构之变化
Physical Compression-Induced Ultrastructural Changes in Pyramidal Neurons of Cerebral Cortex
临床上如脑膜瘤、硬脑膜外出血等,皆会造成大脑皮质的压迫,同时常伴随有临床症状,如失语、暂时性失明等。
在过去的研究中,学者发现当大脑皮质受到纯粹物理性压迫后,大脑皮质厚度会显着变薄,但此压迫并未造成神经细胞死亡;
且受压迫后的大脑皮质中,第五层锥状神经细胞的顶树突干长度明显变短且外型弯曲,但于持续压迫三天后,顶树突干外型会恢复至近似对照组。
目前虽然藉由一般光学显微镜技术可观察到上述这些改变,但对于顶树突干如何恢复外观之相关机制和内部胞器超显微结构变化仍不清楚。
我们推测锥状神经细胞于压迫后,以进行细胞骨架及胞膜重组为基础,逐步恢复外观至接近正常型态。为了证明上述假设,
实验利用穿透式电子显微镜技术,观察大鼠感觉运动皮质区于给予物理性压迫后,包括微管及细胞膜等超显微结构的变化。
实验结果显示,在压迫30分钟至24小时内,微管密度显着低于对照组 (p < 0.05),且微管排列较为松散且杂乱,
此外,压迫后顶树突干外型扭曲,因此推测微管密度下降除了因受压迫后微管解聚造成数目减少外,
压迫后顶树突干直径变宽也是微管密度下降的原因之一。有趣的是,这些现象在去除压迫源后就可回复到近似对照组,
显示神经细胞在压迫初期主要以被动方式改变外观以适应外力。除此之外,我们也发现在持续压迫36小时之后,
微管密度已回复至接近对照组,且顶树突干内之内吞小泡数目明显增加,推测此时神经细胞会主动产生微管重组,
并利用内吞作用修复细胞膜扭曲的外观,这些结果证实了顶树突干外型改变与微管及细胞膜重组有密切关系,
而且神经细胞在受压迫后之反应可分为被动改变的立即期及主动重组的适应期
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