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表面轮廓的
工具显微镜-避免样品间相对位移的机械振动?
(利用探针式针尖探测表面轮廓的方法)很相似,但是 Binning 和 Rohrer
并不是利用针尖和表面实际的接触,而是使针尖和样品间保持数埃的微小距离,且这
个距离由两者间的穿隧电流大小来决定。两年后,Binnig 和 Rohrer 看到一篇 R. Young
描述场发射
显微镜(field-emission microscope, 研究人员称之为”topografiner”)的文
章,这种显微镜和 STM 在操作上的原则相似,但是它的针尖和样品表面间的距离较
远,因为它利用的是场发射电流,而非穿隧电流。在这篇文章中,建议利用更尖的针
尖来提升显微镜的解析度,并述及它在分谱学上令人期待的一些方面。因此在结合了
真空穿隧的想法后,”Scanning Tunneling Microscopy”的想法逐渐成形
开始进行 STM 研究工作的头几个月,Binnig 和 Rohrer 集中注意力于解决一些问
题:
• 如何避免会造成针尖和样品间相对位移的机械振动?
>>用真空避免针尖的机械固定装置受外在声音和震动造成的杂讯震动
• 针尖和样品间的力有多大?
>>在大部分情况中不构成问题
• 如何在那么微小的尺度下移动针尖?
>>利用压电材料
• 如何避免样品和(特别是)针尖上的强烈热扰动?
>>选择弹性系数小的材质制作平均截面积相对小的针(下图为反例)
针的侧面若是很宽而平的圆锥面
称为 whiskers(腮鬍)
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