---
---
---(点击查看产品报价)
本文标题："原子力学显微镜(AFM)和金相显微镜在薄膜特性量测实验的作用"
新闻来源：未知 发布时间：2012-6-13 1:43:26 本站主页地址：http://www.jiance17.com
原子力学显微镜(AFM)：
观察薄膜三维空间的表面型态，原子力学显微镜是一非破坏性的表面分析仪，利用图像分析可得薄膜之表面粗糙度及奈米结构的尺寸分佈。在本研究中是观察Ni崁入式ITO之表面型态以及表面粗超度，又观察Ni崁入式ITO试片之Ni与ITO部分。
金相显微镜(OM)：
金相显微镜之观察主要为经过黄光制程Lift-off制作的Ni嵌入式ITO的点状槽。
所有资料用于交流学习之用，如有版权问题请联系，禁止复制,转载注明地址
上海光学仪器一厂-专业显微镜制造商 提供最合理的显微镜价格
合作站点：http://www.sgaaa.com/显微镜百科