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本文标题："平行光轴面颗粒上进行测定分析显微镜"
新闻来源：未知 发布时间：2019-11-5 7:54:19 本站主页地址：http://www.jiance17.com
平行光轴面颗粒上进行测定分析显微镜
二轴晶主折射率的测定
二轴晶光率体是三轴椭球体，有Ng、Nm、]Vp三个主折射率，均为
非常光，都需在定向切片上才能测得。
二轴晶的Nm一般均选用上OA的颗粒测定，因为这种颗粒在正交偏
光下是全消光，聚敛偏光下呈现上OA切片干涉图，该切片上光率体切
面为圆，任意方向均为Nm，无须专门找Nm方向，找到后即可测定之，
只是每换一次浸油均需寻找上OA的颗粒。
二轴晶Ng和Ab必须在平行光轴面的颗粒上进行测定，这种颗粒在
聚敛偏光下呈现闪图，找到后在正交偏光下用消色器找到Ng和A》的方
向并使之分别平行下偏光镜的PP，比较它们与浸油折射率相对大小，
通过不断更换浸油即可测．QNg或Np的折射率。只是每换一次浸油均要
重复上述工作才能测得Ng或Np的折射率值。Ng和]Vp两折射率不能一次
测量，必须分别进行测量，但其方法和原理是一样的。
5．其他光学性质的观察和测定
用油浸法测定晶体折射率的同时，还可观察和测定晶体的透明度
、颜色、多色性、吸收性、消光类型、消光角、轴性、光轴符号、光
轴角等性质，有时还测定延性符号、双晶和解理等性质，这更有利于
对晶体的鉴定。§2．6 晶体名称的确定
在厚度为0．03mm薄片中的透明和半透明晶体，根据偏光显微镜下
所呈现各项光学性质及常数的测定，即可确定晶体的名称，此外，还
可研究试样的显微结构和结构参数。
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