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本文标题："扫描式穿隧显微镜是谁发明的？在哪一年"

1930 年代之后，在量子力学的基础上，人们能够掌握并描述原子之间的作用，例如量子穿隧效应和凡德瓦
尔力(van der Waals force)。科学家们意識到原來观察微观世界不只可以「远观」还可以「亲近」
。我们可以透过探针和原子近距離接触，藉由兩者间的作用瞭解表面的特性，这一批新诞生的仪器统称为扫描式探
针显微镜(SPM, scanning probe microscopy)。第一个被发明的是 1981 年问世的扫描式穿隧显微镜(STM,
scanning tunneling microscopy) ，利用探针与原子之间穿隧电流的大小知晓表面的高低起伏 电子密度，、
温度够低的情况下甚至可以操控原子的位置，只是需要在真空环境下操作依旧使人困扰。发明扫描式穿隧显微镜的格尔德·宾林(Gerd
Binnig)于是又在 1986 年与奎特(Calvin Quate)、格伯(Christoph Gerber)
携手发明了原子力显微镜(AFM, atomic force microscopy)，解决了电子显微镜要求样品要导电和在真空环境才能量测的问题。因为原子力显微镜量测对象的主
要是凡德瓦尔力，存在于所有种類的原子之间，就这样，样品的材质从导体、半导体拓展到了非导体，量测的环境可以在大气中也可以在水中，从此材料科学和生物学可以研究的尺度大大的缩小了!