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在科技持续进步的同时,量测技术也持续的进步。在工业技术及医疗科技方面也不断地朝着準确性,
快速,非侵入式扫描的方向前进。而近年来的些许工业检测样品以及医学方面的生物组织样品皆为双折射材质,
早年量测技术可用超音波或探针来量测,
近年来可利用光学检测方法,将光引入样品,将所反射的讯号再加以解析,找出其厚度及折射率。
传统的量测架构,无法正确得知双折射讯息。因此,如何正确,精準、快速的测量出双折射物体或组织的方法
也一直在研究中。 本文主要是利用(PS-OCT)来测量双折射样品,
使用极化光特性用于光学同调断层扫描 (Optical Coherence Tomography;OCT)得知双折射样品的信息。
极化敏感光学同调对层扫描是以传统OCT架构上再做延伸,可以利用光的偏振特性测量待测物的一种方法。
在系统中,可以控制入射光与待测物背向散射光的极化态,加以找出相位延迟以及光强度的图像,
完成了非侵入式扫描且快速,準确,稳定的方式。
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